檢測(cè)開(kāi)關(guān)的用途及使用方法
檢測(cè)開(kāi)關(guān)根據(jù)其用途具有各式各樣的輸出方法。
1. 接點(diǎn)輸出式
以微型開(kāi)關(guān)、限位開(kāi)關(guān)、繼電器的接點(diǎn)為輸出的開(kāi)關(guān)要素,與電磁開(kāi)關(guān)、小型馬達(dá)、電磁器等連接作為主要目的,可進(jìn)行數(shù)安培電流的開(kāi)關(guān)控制。與電子控制設(shè)備連接時(shí),需注意振動(dòng)時(shí)間、最小負(fù)荷電流。
2. 光電耦合輸出式
檢測(cè)電路電氣絕緣,與接點(diǎn)輸出式的使用方法相同。可控制10~50mA電流的開(kāi)關(guān)。
3. 直流3線(xiàn)式
a. 電壓輸出型
b. 電流輸出型
亦可稱(chēng)為開(kāi)放、集電極輸出型。如圖8所示,輸出晶體管動(dòng)作時(shí),有吸入電流的NPN型(電流吸收)和吐出電流的PNP型(電流源)。輸出晶體管中使用小容量的功率晶體管,則可進(jìn)行50~200mA電流的開(kāi)關(guān),并可直接進(jìn)行電磁繼電器、電磁閥、直流電磁器、顯示燈等負(fù)荷的驅(qū)動(dòng)。
4. 直流2線(xiàn)式
該方式的接近開(kāi)關(guān)有2根導(dǎo)線(xiàn),因此,使用時(shí)對(duì)極性予以注意的話(huà),不僅使用方法可與機(jī)械式限位開(kāi)關(guān)相同,而且配線(xiàn)簡(jiǎn)單,但需注意下述狀況。
(1) 即使開(kāi)關(guān)處于關(guān)閉狀態(tài),也需向接近開(kāi)關(guān)的檢測(cè)電路供給電流。為此,負(fù)荷中有微量電流流動(dòng)。該電流稱(chēng)為漏電流。漏電流時(shí),負(fù)荷兩端產(chǎn)生“漏電流×負(fù)荷電阻值”的電壓,此時(shí)使用高阻抗負(fù)荷會(huì)產(chǎn)生回復(fù)不良的現(xiàn)象。
(2) 開(kāi)關(guān)開(kāi)啟時(shí),需向檢測(cè)電路供給電壓,此時(shí),若開(kāi)關(guān)不處于全開(kāi)狀態(tài),會(huì)發(fā)生數(shù)伏電壓下降的現(xiàn)象。該電壓稱(chēng)為殘余電壓。為此,電源電壓需為“殘余電壓+負(fù)荷動(dòng)作電壓”的電壓值。最近的產(chǎn)品,一般漏電流在1mA以下,殘余電壓為3~5V。
PC、繼電器、電磁器、燈等可作為負(fù)荷使用,TTL等邏輯電路的輸入需注意前述事項(xiàng)。
5. 交流2線(xiàn)式
可使用AC200V的市用電源,進(jìn)行50mA~1A的交流負(fù)荷電源的開(kāi)關(guān)。開(kāi)關(guān)部件使用可控硅,動(dòng)作原理與直流2線(xiàn)式相同,因此,即使在開(kāi)關(guān)關(guān)閉時(shí),亦需向負(fù)荷供給電流。
由于開(kāi)關(guān)開(kāi)啟時(shí),向內(nèi)部電路供給電流,為此,需使可控硅為非接通角,或與可控硅串聯(lián)插入穩(wěn)壓二極管,以至產(chǎn)生殘余電壓。因此,在選擇負(fù)荷時(shí)應(yīng)予以注意。交流2線(xiàn)式的漏電流為1.5~2mA,殘余電壓在10V左右。發(fā)生動(dòng)作不良、回復(fù)不良現(xiàn)象時(shí),應(yīng)事先與負(fù)荷并聯(lián)并安裝分流電阻。
檢測(cè)開(kāi)關(guān)的主要參數(shù)
使用條件:
溫度;-25-70℃
相對(duì)濕度;95[%](40℃)
額定負(fù)荷:DC30V 0.1mA
接觸電阻:≤50MΩ
絕緣電阻:≥50MΩ
耐電壓: AC250V 50Hz/1min
回 路: 1C-2P
壽 命: 100000次
檢測(cè)開(kāi)關(guān)與其他設(shè)備的連接
檢測(cè)開(kāi)關(guān)的輸出種類(lèi)在前面已作了介紹。進(jìn)行直接或通過(guò)繼電器向電磁器、馬達(dá)驅(qū)動(dòng)器、計(jì)數(shù)器、程序控制器(PC)輸入時(shí)使用。為使檢測(cè)用開(kāi)關(guān)與其他設(shè)備連接后信號(hào)得到正確的傳輸,需對(duì)電源種類(lèi)、電流、電壓規(guī)格進(jìn)行輸出、輸入調(diào)整。
1. 接點(diǎn)輸出傳感器與PC的連接
作為PC的輸入模塊,可使用AC輸入模塊和DC輸入模塊。為將來(lái)自輸入模塊的電流控制在10mA之內(nèi),需對(duì)接觸的可靠性進(jìn)行研究。作為其對(duì)策,可將輸入模塊與虛設(shè)電阻并聯(lián),使通過(guò)接點(diǎn)電流增加,或使用具有微小電流接點(diǎn)的開(kāi)關(guān)。
2. 直流開(kāi)關(guān)型負(fù)公共端檢測(cè)開(kāi)關(guān)的連接
確認(rèn)檢測(cè)開(kāi)關(guān)的最大輸出電流(同步電流)大于PC輸入模塊的開(kāi)啟電流。使用電壓輸出型檢測(cè)開(kāi)關(guān)時(shí),為防止由于電流逆流向傳感器引起錯(cuò)誤動(dòng)作,傳感器電源與輸入模塊電源的使用電壓應(yīng)相同。
3. 直流(交流)2線(xiàn)式檢測(cè)開(kāi)關(guān)的連接
確認(rèn)檢測(cè)開(kāi)關(guān)開(kāi)啟時(shí)的漏電流比PC輸入模塊的關(guān)閉電流小,而電源電壓減去傳感器開(kāi)啟時(shí)殘余電壓的值大于PC輸入模塊輸入開(kāi)啟電壓。開(kāi)關(guān)關(guān)閉時(shí)的漏電流大于PC輸入模塊關(guān)閉時(shí)的電流時(shí),與輸入模塊并聯(lián)連接虛設(shè)電阻,使流向PC輸入模塊的電流減小即可。使用附帶氖燈或發(fā)光二極管的限位開(kāi)關(guān)等亦需采取同樣方法。
4. 檢測(cè)開(kāi)關(guān)與計(jì)數(shù)器的連接
計(jì)數(shù)器種類(lèi)分為無(wú)電壓輸入型和電壓輸入型。使用電壓輸入型時(shí),需對(duì)使用電壓輸出型的傳感器調(diào)整“H”、“L”等級(jí)進(jìn)行確認(rèn)。使用無(wú)電壓輸入型時(shí),應(yīng)同時(shí)使用直流開(kāi)關(guān)型負(fù)公共端輸出或接點(diǎn)輸出型。與接點(diǎn)輸出型共同使用時(shí),需對(duì)從計(jì)數(shù)器中流出的數(shù)毫安電流是否確實(shí)具有開(kāi)關(guān)動(dòng)作性能進(jìn)行確認(rèn)。
5. 檢測(cè)開(kāi)關(guān)與電感性負(fù)載的連接
電感性負(fù)載(磁體、繼電器、電磁器)切斷時(shí),產(chǎn)生數(shù)千伏的反電動(dòng)勢(shì),從而引起無(wú)接點(diǎn)輸出型輸出元件的破壞和接點(diǎn)輸出型接點(diǎn)表面的粗糙導(dǎo)致的接觸不良現(xiàn)象。作為其對(duì)策,應(yīng)盡量在最接近電感性負(fù)荷之處并聯(lián)反電動(dòng)勢(shì)吸收元件(CR、非線(xiàn)性電阻、二極管)。
檢測(cè)開(kāi)關(guān)的常見(jiàn)故障
1. 使用初期的故障
以光電開(kāi)關(guān)、接近開(kāi)關(guān)等為主體的檢測(cè)開(kāi)關(guān),半導(dǎo)體一般會(huì)在使用初期發(fā)生故障。
其原因是使用在回路中的半導(dǎo)體,在制造中受到種種應(yīng)力而導(dǎo)致在使用開(kāi)始后的短期內(nèi)發(fā)生破損;另外,功率比半導(dǎo)體低的電阻、電容也是造成使用初期故障的原因。初期故障的發(fā)生時(shí)間,根據(jù)制造方法的不同而不同,不能一概而論,一般多發(fā)生在使用開(kāi)始后的一星期到10天內(nèi)。
2. 偶發(fā)故障
包括由于半導(dǎo)體部件的不良而引起的故障,電阻、電容的斷線(xiàn)、短路、容量不足,電路板的電路斷裂、帶焊料等的不良現(xiàn)象,但發(fā)生率極低。接近開(kāi)關(guān)經(jīng)常發(fā)生故障時(shí),可以考慮為使用環(huán)境的問(wèn)題,請(qǐng)向廠(chǎng)家咨詢(xún)。
3. 負(fù)荷短路與配線(xiàn)錯(cuò)誤
由于配線(xiàn)錯(cuò)誤或帶電作業(yè)引起負(fù)荷短路時(shí),導(dǎo)致大電流流向檢測(cè)開(kāi)關(guān),輸出回路燒毀。作為在檢測(cè)開(kāi)關(guān)外進(jìn)行的保護(hù)對(duì)策,可使用切斷快速熔斷器短路電流的方法,通過(guò)熔斷器進(jìn)行保護(hù),不僅可保護(hù)負(fù)荷短路,還對(duì)地線(xiàn)有保護(hù)作用。但是,由于開(kāi)關(guān)內(nèi)的輸出晶體管的殘余容量小,達(dá)不到100[%]的效果。
4. 干擾波導(dǎo)致的破損
由干擾波帶來(lái)的破損是慢慢形成的,因此在開(kāi)始使用后的一個(gè)月或二三個(gè)月后發(fā)生破損是極其普通的。因此,在該期間發(fā)生破損時(shí),其原因則可判斷為干擾波。電感負(fù)載開(kāi)閉時(shí)發(fā)生的檢測(cè)開(kāi)關(guān)的瞬間錯(cuò)誤動(dòng)作是由干擾波造成的。
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